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KH-550硅烷偶联剂对半导体制造用碳化硅粉体表面的改性研究
2227 2012-12-03
编号:FTJS03151
篇名: KH-550硅烷偶联剂对半导体制造用碳化硅粉体表面的改性研究
作者: 李星; 铁生年;
关键词:碳化硅; 表面改性; 硅烷偶联剂; 分散性;
机构:青海大学非金属材料研究所;
摘要: 采用KH-550硅烷偶联剂对SiC粉体进行改性,研究了影响SiC粉体改性的各种因素,从而确定出改性最佳工艺参数,并对制备的改性粉体进行表征,分析了改性对SiC料浆分散稳定性的影响。结果表明,SiC微粉经偶联剂处理后没有改变原始SiC微粉的物相结构,只是改变了其在水中的胶体性质;微粉团聚现象减少,分散性得到改善;改性SiC微粉与原始SiC微粉相比,表面特性发生很大变化,Zeta电位值显著提高,悬浮液的分散稳定性得到明显改善。
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