X-射线荧光光谱直接压片法测定氧化铝中杂质Ga_2O_3含量

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X-射线荧光光谱直接压片法测定氧化铝中杂质Ga_2O_3含量

2610

2011-06-29

编号：FTJS01276
篇名： X-射线荧光光谱直接压片法测定氧化铝中杂质Ga_2O_3含量
作者：张晓平;
关键词：X-射线荧光光谱仪; 直接压片法; 氧化铝; Ga2O3;
机构：包头铝业有限公司;
摘要：用X-射线荧光光谱直接压片法测定氧化铝中杂质Ga2O3含量。该方法快捷方便,准确度、精密度高,能满足科研和工业生产的需要。